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價格：電議
采購度：165 原產地：美洲
發布時間：2022/9/23 17:06:44
標簽：FEI掃描電鏡離子源 報價現貨
16830賽默飛FEI掃描電鏡離子源耗材現貨特價
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出
4035 273 6 7441 光闌
4035 272 35991 抑制
4035 272 35971 拔出
1058129 拔出
1301684 Suppressor 抑制
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過創新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業研究域高研究和分析需求的理想解決方案。
通常需要進行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構和性質。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質量、全自動的多模式 3D 數據集采集，包括用于大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結構和晶體學信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后，Scios 2 DualBeam 可為納米的高分辨率、高 3D 表征以及分析提供獨特的工作流程解決方案。
創新的 NICol 電子色譜柱為系統的高分辨率成像和檢測能力提供了基礎。它適用于多種工作條件，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結構信息）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細表面信息）運行，都可以提供出色的納米細節。Scios 2 DualBeam 具有獨特的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統，用于同時采集角和能量選擇二電子 (SE) 以及 BSE 成像數據。不僅可以快速訪問從上到下的詳細納米信息，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的信息。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時采集所有信號，揭示材料表面或交叉切片中小的特征。借助獨特的、具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱，可獲得快速、準確、可重現的結果。
科學家和工程師不斷面臨新的挑戰、需要對越來越復雜的樣品的更小特征進行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的新技術創新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應用業知識相結合后，可支持客戶快速方便地制備用于多種材料的 自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質量結果，需要使用低能量離子進行終拋光，以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力，還具有良好的低電壓性能，能夠創建高質量的 TEM 薄片。
16830賽默飛FEI掃描電鏡離子源耗材現貨特價
主要特點
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現場特定的 TEM 和原子探針樣品。
使用在廣泛的樣品范圍（包括磁性和非導電材料）內具有一流性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。
通過各種集成式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。
使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區域來獲得高質量、多模式亞表面和 3D 信息。
高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體應用需求進行定制。
具有用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。
靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應用要求。
規格
| 電子束分辨率 | · 佳 WD o 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm o 在 1 keV 下為 1.4 nm o 在 1 keV（射束減速）下為 1.2 nm |
| 電子束參數空間 | · 電子束電流范圍：1 pA 至 400 nA · 著陸能量范圍：20* eV – 30 keV · 加速電壓范圍：200 V – 30 kV · 大水平射野寬度：7 mm WD 時為 3.0 mm，60 mm WD 時為 7.0 mm · 可通過標準導航剪輯提供超寬視野 (1×) |
| 離子光學系統 | · 加速電壓：500 V – 30 kV · 電子束電流范圍：1.5 pA – 65 nA · 15 位置光闌條 · 漂移抑制模式，為非導電樣品的標準模式 · 小離子源壽命：1,000 小時 · 離子束分辨率：選擇角方法下 30kV 時為 3.0 nm |
| 檢測器 | · Trinity 檢測系統（鏡筒內和色譜柱內） o T1 分段式下鏡筒內檢測器 o T2 上鏡筒內檢測器 o T3 可伸縮色譜柱內檢測器（可選配） o 多達 4 個同時檢測的信號 · Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) · 用于二離子 (SI) 和二電子 (SE) 的高性能離子轉換和電子檢測器 (ICE)（可選配） · 可伸縮、低電壓、高對比度、分段式、固態反向散射電子檢測器 (DBS)（可選配） · 帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器（可選配） · 查看樣品和腔室的 IR 攝像機 · 腔室內 Nav-Cam 樣品導航攝像機（可選配） · 集成的光束電流測量 |
| 載物臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺： · XY 范圍：110 mm · Z 范圍：65 mm · 旋轉：360°（無限） · 傾斜范圍：-15° 至 +90° · XY 重復性：3 μm · 大樣品高度：與共心點間距 85 mm · 0° 傾斜時的大樣品重量：5 kg （包括樣品架） · 大樣品尺寸：完全旋轉時 110 mm（也可以是更大的樣品，但旋轉有限） · 計算中心旋轉和傾斜 |
更新時間：2024/5/14 18:44:19
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